JKZC-DN系列增強(qiáng)型探針臺(tái)

|產(chǎn)品概要

JKZC-DN系列探針臺(tái)是我司一款增強(qiáng)型晶圓測(cè)試探針臺(tái)，最大可完成12英寸晶圓的電學(xué)測(cè)試。此系列探針臺(tái)釆 用高剛性顯微鏡龍門(mén)結(jié)構(gòu)，顯微鏡可X-Y-Z方向進(jìn)行精密位移調(diào)節(jié)。卡盤(pán)具備上下調(diào)節(jié)功能,可以使探針與 樣品快速分離，提高測(cè)試效率，在科研單位和半導(dǎo)體工廠都得到了廣泛運(yùn)用，配合對(duì)應(yīng)的儀器儀表,可以完 成集成電路/芯片/MEMS器件/PCB元器件/材料器件的IV/CV特性測(cè)試/管芯晶圓LED/LCD/太陽(yáng)能電池行業(yè)的測(cè)試。此系列探針臺(tái)可以實(shí)現(xiàn)1μm以上的Pad電極測(cè)試。

|技術(shù)特點(diǎn)

?顯微鏡具備高剛性龍門(mén)支架且搭配氣動(dòng)升降，保證高質(zhì)量的光學(xué)成像；

?卡盤(pán)同時(shí)具備快速和微調(diào)升降，便于樣品和探針快速分離，也可以加載探針卡；

?可升級(jí)性強(qiáng)，可升級(jí)卡盤(pán)360度快速移動(dòng)，可升級(jí)光電流掃描成像或拉曼-瞬態(tài)熒光壽命成像系統(tǒng)等。

詳細(xì)參數(shù)

搭配產(chǎn)品/半導(dǎo)體參數(shù)分析儀

我們經(jīng)過(guò)近10年的發(fā)展,在測(cè)試儀器與探針臺(tái)的搭配方面具備十分 豐富的經(jīng)驗(yàn)。半導(dǎo)體參數(shù)分析儀方面，我們和是德科技(Keysight)、 泰克(Tektronix)、概倫電子(PRIMARIUS)等知名公司的半導(dǎo)體參數(shù) 分析儀有過(guò)多次搭配經(jīng)驗(yàn)，系列型號(hào)有Keysight B1500A、Keith ley 4200A-SCS、PRIMARIUS FS-Pro等,并為用戶(hù)提供半導(dǎo)體參數(shù)分析 儀與探針臺(tái)集成測(cè)試方案和服務(wù)。

搭配產(chǎn)品/矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀

依靠與儀器設(shè)備廠商和設(shè)備集成經(jīng)銷(xiāo)商所保持良好的合作關(guān)系，我司 可為用戶(hù)提供是德科技(Keysight)、中電思儀(Ceyear)等知名公司的 網(wǎng)絡(luò)分析儀和模塊，有 Keysight E5063A/E5072A/E5061B/E5080B ENA、Keysight(N522x/3x/4xB) PNA、Keysight N5290A/ N5291A、 Ceyear 3762A/B/C-S、Ceyear 3671C/D/E 等,各系列型號(hào)的矢量網(wǎng)絡(luò) 分析儀和毫米波網(wǎng)絡(luò)分析儀，涵蓋不同測(cè)量頻率范圍、性能和功能，并 為用戶(hù)提供網(wǎng)絡(luò)分析儀與探針臺(tái)集成測(cè)試方案和服務(wù),具備豐富的測(cè) 試經(jīng)驗(yàn)。

搭配產(chǎn)品/其他類(lèi)型源表

在其它類(lèi)型源表方面，比如tek 2450, tek 2600, keysight 2900,普賽斯 S300,鐵電分析儀，各類(lèi)示波器，各類(lèi)電源，頻譜儀等等都有多年的搭 配經(jīng)驗(yàn)。